Вісник Львівського університету. Серія фізична
Інформація
| Рік видання |
2006 |
| Випуск |
39 |
| Автори |
О.Дьомін, О.Прокоф'єва, О.Коваленко, І.Штамбур |
| Назва статті |
Визначення макроскопічних параметрів напівпровідникових зразків за допомогою резонансних вимірювань |
| Анотація |
Останніми роками науковий інтерес становлять безконтактні методи визначення макроскопічних параметрів напівпровідників, зокрема метод магніто-розмірного резонансу, який з'являється завдяки проходженню крізь зразок геліконових хвиль. Автори вимірювали значення магнітного поля першого та другого розмірних резонансів при фіксованій частоті. За отриманими даними були розраховані концентрації вільних носіїв заряду для деяких зразків InSb. Також в роботi були визначені значення ефективної маси носіїв заряду для зразків InSb з р-типом провідності |
| Мова |
Українська |
| PDF
формат |
О.Дьомін, О.Прокоф'єва, О.Коваленко, І.Штамбур@nbsp |
©2003-2009 Львівський університет |
Контакти
