Наукові видання Львівського національного університету імені Івана Франка

Вісник Львівського університету. Серія фізична

Інформація
Рік видання 2007
Випуск 40
Автори T.Кавецький, O.Шпотюк, В.Бойко, Я.Філіпецкі, M.Попеску
Назва статті Вивчення природи нанопустот у бінарних халькогенідних стеклах методами рентгенівської дифракції із застосуванням до першого різкого дифракційного піку позитронної анігіляції та Монте-Карло моделювання
Анотація У статті вперше проаналізовано природу нанопустот в типових бінарних стеклах As2Se3 та As2S3, з використанням комбінації методів рентгенівської дифракції із застосуванням до першого різкого дифракційного піку позитронної анігіляції та Монте-Карло моделювання. Визначено добру узгоджуваність між отриманими експериментальними та теоретичними результатами. Припускається, що запропонований підхід до характеризації нанорозмірної атомно-дефіцитної структури в досліджуваних бінарних стеклах може бути також використаний для потрійних сіткових стекол на основі As2S(Se)3 підсистем
Мова Англійська
PDF формат T.Кавецький, O.Шпотюк, В.Бойко, Я.Філіпецкі, M.Попеску@nbsp
small logo
©2003-2009 Львівський університет | Контакти